飛行時間二次離子質(zhì)譜（ToF-SIMS）是目前材料表面分析領(lǐng)域極-具權(quán)-威性的核心檢測技術(shù)，憑借超高的表面靈敏度、極低的采樣深度、可同步分析無機元素與有機組分等突出優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于材料表面成分表征、界面分析、表面污染檢測、深度剖面剖析等場景，是導(dǎo)電、絕緣材料通用的高-端表面化學(xué)分析工具。

設(shè)備全面兼容靜態(tài)SIMS、成像SIMS、動態(tài)深度剖面SIMS三大工作模式，一臺設(shè)備即可實現(xiàn)表面成分定性定量分析、微區(qū)二維成像、薄膜深度剖析、成分梯度檢測等全功能檢測需求，覆蓋絕大多數(shù)材料表面分析場景，無需多設(shè)備搭配使用。

摒棄傳統(tǒng)設(shè)備龐大的機身結(jié)構(gòu)，采用緊湊型臺式一體化設(shè)計，對實驗室場地空間、真空配套、供電環(huán)境等配套設(shè)施要求極低，普通常規(guī)實驗室即可安裝使用，無需專屬超凈實驗室與復(fù)雜配套系統(tǒng)，大幅降低設(shè)備落地門檻。

依托優(yōu)化的光路結(jié)構(gòu)與高通量分析算法，檢測效率大幅提升，單樣品檢測成本較傳統(tǒng)超高真空SIMS設(shè)備最高降低90%，徹-底解決傳統(tǒng)SIMS無法用于大批量、常規(guī)化檢測的行業(yè)難題，完-美適配工業(yè)生產(chǎn)線常態(tài)化質(zhì)量管控需求。

區(qū)別于XPS、EDS等常規(guī)表面分析設(shè)備僅能檢測無機元素的局限性，MiniSIMS可同時完成樣品表面所有無機元素、有機污染物、高分子化合物的同步分析，通過智能算法消除元素與有機信號的相互干擾，有效降低檢測檢出限，譜圖分辨率更高、檢測結(jié)果更精準，可精準識別微量表面污染物。

設(shè)備內(nèi)置千余種主流材料專屬SIMS質(zhì)譜數(shù)據(jù)庫，覆蓋金屬、高分子、陶瓷、薄膜、催化劑、粘合劑等各類化工、電子材料，可快速匹配、識別未知化合物與未知成分，無需人工反復(fù)標定，大幅提升分析效率。